水冷式高低温冲击试验箱

水冷式冷热冲击试验箱,水冷式高低温冲击试验箱技术参数：

采用多段自动负载容量调整技术，更高效，更节能

水冷式冷热冲击试验箱通常按照以下步骤进行工作：  

设定测试参数：根据测试需求，设定测试的温度变化曲线、持续时间和测试次数等参数。  

放置样品：将待测试的样品放置在样品槽中，确保样品与试验箱内部空气的接触良好。  

温度预调和平衡：根据测试要求，将试验箱预调至初始温度，使试验箱内部的温度达到平衡状态。  

冷却阶段：启动制冷机组，开始进行冷却阶段。制冷机组通过制冷剂的循环流动，吸收试验箱内部的热量，并将其排出，以降低试验箱内部的温度。  

加热阶段：当试验箱内部的温度达到设定的低温值后，停止制冷机组的工作，启动加热系统，开始进行加热阶段。加热系统通过通电产生热量，将其传递给试验箱内部的空气或物体，以升高温度。  

冷热冲击循环：在冷却和加热阶段之间，根据设定的温度变化曲线，循环进行冷热冲击，以模拟真实环境下的温度变化情况。  

测试结束：当测试时间或次数达到设定值时，停止加热和制冷系统的工作，试验结束。  

水冷式冷热冲击试验箱广泛应用于材料科学、电子器件、汽车零部件、航空航天、光电子等领域。它可以对材料、元器件和产品在温度条件下的性能进行测试和评估，以验证其耐热性、耐寒性和热冲击性能。  

材料科学：用于测试材料在高温或低温环境下的物理性能、热膨胀系数、耐热性等。  

电子器件：用于测试电子元器件在温度条件下的可靠性和稳定性，如芯片、电路板、连接器等。  

汽车零部件：用于测试汽车零部件在温度条件下的耐热性、耐寒性和热冲击性能，如发动机部件、电池、线束等。  

航空航天：用于测试航空航天器件和材料在温度环境下的性能，如航空航天电子设备、航天材料等。  

光电子：用于测试光电子元器件和光纤在高温或低温环境下的性能，如激光器、光纤传输系统等。